1 項(xiàng)目?jī)?yōu)勢(shì)

   - 配備日本進(jìn)口HAST創(chuàng)始試驗(yàn)設(shè)備品牌設(shè)備，控制精度和抗凝露性能遠(yuǎn)高于其它友商品牌設(shè)備

   - 設(shè)備特別定制芯片晶元級(jí)抗污染試驗(yàn)系統(tǒng)，可提供對(duì)污染敏感較高的產(chǎn)品試驗(yàn)

   - 本實(shí)驗(yàn)室掌握耐超高溫材料和電子器件技術(shù)，可提供HAST通電樣品夾具定制

2 項(xiàng)目簡(jiǎn)介

通過(guò)加速測(cè)試來(lái)確認(rèn)包括半導(dǎo)體在內(nèi)的電子元件和材料是否由耐久性(壽命) 或環(huán)境變化而導(dǎo)致功能或外觀失效.

PCT (壓力鍋測(cè)試):

通常所說(shuō)的PCT測(cè)試是指100%相對(duì)濕度的飽和蒸汽測(cè)試.

HAST (高加速應(yīng)力測(cè)試):

通常是指相對(duì)濕度為85%的非飽和蒸汽測(cè)試.

HAST 測(cè)試常用標(biāo)準(zhǔn)清單