1 原子力顯微鏡 (AFM)
掃描探針顯微鏡，俗稱原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, 簡稱AFM),提供原子或接近原子分
辨率的表面圖形，是測定埃尺度表面粗糙樣本的理想技術(shù)。除顯示表面圖像, AFM還可以提供特征尺寸定
量測量,例如步進高度測量；其他樣本特性，如為確定載體和摻雜劑的分布和測量電容。
2 主要的檢測項目
- 三維表面結(jié)構(gòu)圖像檢測
- 測定形態(tài)/結(jié)構(gòu)檢測
- 測定表面粗糙度
公眾號
地址（辦公室）：廣東省深圳市羅湖區(qū)南湖街道嘉北社區(qū)建設(shè)路2016、2018號南方證券大廈AB棟16層
電話(Tel.)： +86-769-22247299 郵箱(E_mail): Service@itstlab.com
地址（實驗室）：廣東省東莞市東城街道溫塘石羊街278號1樓
電話(Tel.)： +86-769-22247299 郵箱(E_mail): Service@itstlab.com
地址（咨詢）: 廣東省廣州市黃埔區(qū)科學(xué)城科研路3號3棟407
電話(Tel.)： +86-20-29862950 郵箱(E_mail): Service@itstlab.com
