1 項目優(yōu)勢

   本實驗室振動設(shè)備采用日本進(jìn)口高端電磁振動臺，在控制精度和耐久性相較于普通國產(chǎn)設(shè)備高出數(shù)倍，最高頻率可達(dá)3000Hz。設(shè)備配有X，Y平臺，可實現(xiàn)不換樣品方向來執(zhí)行產(chǎn)品X，Y和Z三軸向測試，同時配有不同尺寸測試平臺，以達(dá)到不同試驗條件的要求；實驗室目前最大平臺尺寸為1.2m x 1.2m。

   自有機(jī)械加工車間和專業(yè)夾具設(shè)計工程師專業(yè)人員，可提供試驗夾具定制設(shè)計和加工服務(wù)，公司在近三年內(nèi)，成功提供多家芯片設(shè)計制造和高端汽車電子產(chǎn)品公司的夾具方案，特別在高頻夾具的工程設(shè)計和材料應(yīng)用上積累了豐富的專業(yè)技術(shù)能力。

2 檢測目的: 

   幫助評估各類產(chǎn)品、結(jié)構(gòu)、裝置處于振動環(huán)境下所反映出來的情形，避免長時間處于共振狀況下造成無法預(yù)知的損壞，是一種能充分顯現(xiàn)持續(xù)性與疲勞性的試驗。也可藉由振動實驗了解相關(guān)結(jié)構(gòu)間之相互影響。

3 檢測條件分類：

4 檢測參考方法：

   IEC 68-2-6 Test FC： 正弦振動

   GBT 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第２部分：試驗方法 試驗 Fc：振動（正弦）

   IEC 68-2-34 Test Fd: 一般需求

   IEC 68-2-35 Test Fda: 寬頻隨機(jī)振動-高重復(fù)性

   IEC 68-2-36 Test Fdb: 寬頻隨機(jī)振動-中等重復(fù)性

   IEC 68-2-37 Test Fdc:寬頻隨機(jī)振動-低等重復(fù)性 

 5 典型的曲線：